Автор: Tolaboyev, Dilmuhammad Xayitali o’g’li; Mirzayev, Valijon To’lqinovich; Axmadjonov, Mexriddin Faxridinovich; Abdullayev, Sherzod Shuhratjon o’g’li; Raximjonov, Jahongir Saydaxmat o’g’li

Аннотация: Появление внутренних дефектов в решетке кремния обычно является результатом случайного теплового движения атомов внутри решетки. При комнатной температуре тепловая энергия мала по сравнению с энергией связи сетки, поэтому образуется очень мало дефектов; однако это число не равно нулю, поэтому самопроизвольное возникновение дефектов можно охарактеризовать термодинамикой.

Ключевые слова: полупроводник, энтропия, конфигурационная энтропия, энергия, свободная энергия, вакансия.

Страницы в журнале: 231 - 240